BFSカードピンホールCCIT・外観検査ソリューション

検出原理

高周波高電圧 (V) は、絶縁性材料による密閉容器の検査箇所に印加されます。制御部で発生させた電圧を高圧トランスで昇圧し、検査電極から印加します。検査箇所に欠陥があると、容器内の液体 (R) にピンホール、クラック、密閉不良個所を通して電流が流れます。この図で Z1 の抵抗が失われた結果、電流量に変化が発生します。

この電流量の変化を検出することにより、欠陥の存在を認識することが可能になります。電流は電子回路内で読み取り可能な信号値に変換し、その結果を操作パネルに表示します。

等価回路を用いた電流計算

検査精度

0.1µm ミクロン穴でも確実に検知できる技術、それが当社の高電圧ピンホール

検査機です。このような微小の穴は肉眼や外観検査では見つけられないものです。

当社ピンホール検査機では、容器の完全性評価として充填フィルターメッシュ径の

φ 0.2µmよりさらに微小な 0.1µm 径穴をターゲットにしています。

当社高電圧方式による検知穴例　=　ピンホール 0.5µm の顕微鏡写真

高電圧方式の特徴

食品及び医薬品用の包装におけるピンホール、クラック及びシール不良検査には色々な検査方法が用いられています。

各種の圧力方式、真空又は圧力下におけるダイ・テスト方式、着色活性剤を添加した溶液に製品を水没させ、リーク箇所から浸透した染液を肉眼で検査する方式等が有ります。

高電圧方式はこれらの各方法の中で最も信頼性・生産性が高い検査方式です。

特徴として、下記の点が上げられます。

0.1 μmの微小穴検知が可能
非破壊で検査が可能
製品への二次汚染がない
高速処理で全数検査に適し、且つ信頼性の高い方式
1μS/cmの注射用水（WFI）、ブドウ糖など低導電率製品も検査可能
医薬品容器全般への容器完全性試験 (CCIT : Container Closure Integrity Testing) の要求の高まりを受け、高電圧式検査は最適なパフォーマンスを達成

検査性能検証

ニッカ電測は高電圧式ピンホール検査機のパイオニアで、検知するための技術は勿論、その検証についても70年以上に渡る経験と蓄積からご提案することができます。

現在、国内外で確実かつ再現性のある方法として広く使われているのが、レーザー加工によるピンホールの作成です。

ミクロ単位(1桁)でのレーザー加工による穴の作成が可能、これまでの検証では当社装置で確実に検知することが証明されています。※ワーク条件による。

ニッカ電測では、国内外のレーザー加工サービス会社と協力しており、お客様の検証をサポートすることができます。

特殊ツールを使用し 0.1 μ m 穴のサンプルの作成も可能です。

テストキット

テストキットは生産現場で装置の準備状況を確認できる日々のバリデーションサポートツールです。

お客様の容器形状をもとに作成され、良品用と不良品で値を変えた高圧抵抗を装置の電極構成に合わせて配置し、装置に通過させることで良品・不良品の判定、選別、信号表示、供給から排出の各センサーなどの機器が正常に機能していることが確認できます。

デクシス外観検査装置

デクシス外観検査装置レイアウト

デクシス外観検査の使用

型式
検査部位	上面検査、下面検査、側面検査、（液量検査）
検査性能	黒点異物、ヤケ、成形不良、充填液過不足
検査能力	135 カード/分
対象ワーク	小型 BFS 容器（連包容器 0.5ml他）
装置サイズ	W2500×D1000×H2000 (mm)
装置サイズ	搬送高さ： 850mm （製品倒立姿勢）
ユーティリティ	AC200V （3相） 15A

ニッカ電測BFSカード用ピンホール検査機

ニッカ電測の高度な高電圧リーク検査技術

HDIシリーズは、溶閉済BFSカードのねじ切り部、節部、胴体部、下部の4箇所に検査エリアを分けて高電圧印加式検査をします。製品の特性に応じて、検査チャネル追加のカスタマイズが可能です。ニッカ電測は、電流経路を容器の任意の領域に集中させる独自の形技術を開発しました。この技術により、水性注射用水（WFI）のような低導電率液体の検査も可能となります。さらに、製品仕様および検査速度に基づき、当社の検査機は最小φ0.1μm相当の微細な穴のピンホール検査も提供することができます。